Sensors voor Optiv
Sensors for Optiv
De voordelen van multi-sensor technologie. Door de combinatie van contact en contactloze meetsensoren, bundelen de Optiv meetmachines de voordelen van diverse sensoren in een enkel multi-sensorsysteem. Het is nu mogelijk om een omvangrijke reeks verschillende meettaken uit te voeren op een component met behulp van de meest geschikte sensor voor elke taak – in een enkele klembewerking en een enkel meetproces. Multi-sensor technologie neemt grotendeels de noodzaak weg om te investeren in een hele reeks verschillende meetmachines. Het modulaire ontwerp van het systemen laat ook alle opties open voor toekomstige meettaken.


Vision sensor


De Vision-Sensor is de beeldverwerkings meetsensor voor de Optiv meetmachines. Hij kan contactloos meten op de kleinste elementen onderhevig aan de krapste toleranties en volbrengt allerlei taken, die niet kunnen worden uitgevoerd met een stylus. Hierdoor wordt deformatie voorkomen van geïnspecteerde componenten, zoals die kan worden veroorzaakt door mechanische tasters. Het object, dat wordt gemeten, wordt ingewonnen via de lens op een matrix camera (CCD camera). De optische signalen worden geconverteerd naar een digitaal beeld en verder verwerkt om de coördinaten te berekenen van de gemeten punten via de beeldverwerkingsroutines in het PC-DMIS Vision meetsoftwarepakket.


» meer
Through-The-Lens laser (TTL laser)


De TTL laser en de beeldverwerkings vision sensor delen hetzelfde optische pad ("Through-The-Lens" = Door de lens). Dit coaxiale principe maakt naadloos schakelen mogelijk tussen camera en laser. Omdat in dit concept geen parallax bestaat tussen de twee sensoren, treedt er geen verlies op in meetbereik in de X-richting en wordt kalibratie geminimaliseerd.


» meer
Chromatische Witlicht Sensor (CWS)


De chromatische witlicht sensor (CWS) is een zeer efficiënte scansensor. Hij is gebaseerd op het confocale meetprincipe en werkt met behulp van chromatische diepte scanning. Deze techniek gebruikt een speciale lens, die wit licht afhankelijk van de golflengte verschillend refracteert om afstandmetingen uit te voeren. De systeemresolutie is daarom afhankelijk van de intensiteit van het licht gereflecteerd door het oppervlak van het geïnspecteerde component.


» meer


Print Print